AQG324是ECPE（歐洲電力電子中心European Center for Power Electronic）相關工作組基于LV324測試標準，是針對汽車電力電子轉換單元(PCUs)用功率模塊而推出的認證指南。

其中包含：

1、QM模塊測試部分

2、QC模塊特性測試部分

3、QE環(huán)境可靠性部分

4、QL壽命試驗部分

AQG324制定了完善的車規(guī)級功率模塊的可靠性試驗流程，可以有效驗證產品可靠性，指導廠商更深入了解其產品可靠性能，從而加快產品開發(fā)速度，優(yōu)化工藝流程。

該標準自2018年4月推出后側重于基于硅基的功率模塊可靠性測試指南，至2021年3月的版本，已經(jīng)更新了部分碳化硅功率模塊的測試程序。

廣電計量元器件篩選及失效分析中心對AQG324測試標準進行深入研究，并建立了全套的功率模塊可靠性驗證技術能力。

一、AQG324 電力電子模塊認證

本標準定義了功率模塊所需驗證的測試項目、測試要求以及測試條件，適用范圍包括電力電子模塊的使用壽命和基于分立器件的等效特殊設計，例如用于高達3.5噸機動車輛的電力電子轉換器單元(PCU)。

這些測試項目、測試要求以及測試條件大體上適用于Si基功率半導體模塊。后續(xù)發(fā)行版本將涉及替代半導體技術，具體的測試項目和相關參考標準如下圖所示。

圖1 AQG認證項目介紹

圖2 AQG認證項目介紹

二、廣電計量關于AQG324認證服務方案

廣電計量在Si基功率半導體模塊、SiC模塊等相關測試有著豐富的實戰(zhàn)經(jīng)驗，為眾多半導體廠家提供模塊的規(guī)格書參數(shù)測試、競品分析、環(huán)境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務。

1、QM-Module test

AQG324模塊測試用于在單個測試序列之前，以確保只有無缺陷的測試對象進入資格測試，和序列之后表征被測件的電氣和機械性能。

其目的是深入了解模塊的特征參數(shù)。模塊測試包含模塊開關單元的特征參數(shù)，聲掃和外觀檢查等測試項目。如圖所示，廣電計量認證服務包含且不限于提供AQG324相關的測試項目。

圖3 模塊測試設備

表1模塊測試設備方案

2、QC-Characterizing module testing

模塊特性測試主要用于驗證功率模塊的基本電氣功能特性和機械數(shù)據(jù)。

除此之外，這些測試可以針對設計中與功能退化（功能失效）無關的薄弱點進行早期探測和評估，包括元器件的幾何布置、組裝、互連技術和半導體質量。

表2  塊特性測試設備方案

圖4 動態(tài)測試設備

3、QE-Environmental testing

環(huán)境測試主要用于驗證電力電子模塊在機動車輛中的適用性，包括物理分析、電氣和機械參數(shù)驗證以及測試絕緣屬性。

表3 環(huán)境測試設備方案

4、QL-Lifetime testing

壽命測試主要是驗證產品在規(guī)定條件下的使用壽命、貯存壽命是否達到規(guī)定的要求，發(fā)現(xiàn)設計缺陷，確定失效機理等，例如功率循環(huán)測試主要是觸發(fā)/激發(fā)電力電子模塊的典型退化機制。

該過程主要區(qū)分為兩種失效機制：靠近芯片互連的疲勞失效(chip-near)和距離芯片互連較遠的疲勞失效(chip-remote)。

兩種失效機制均由不同材料（具有不同的熱膨脹系數(shù)）之間的熱機械應力引發(fā)。

圖5 AQG認證項目介紹

表4壽命試驗設備方案

圖6 功率循環(huán)測試機臺

圖7  HTXB試驗系統(tǒng)監(jiān)控柜

關于廣電計量半導體服務

廣電計量在全國設有元器件篩選及失效分析實驗室，形成了以博士、專家為首的技術團隊，構建了元器件國產化驗證與競品分析、集成電路測試與工藝評價、半導體功率器件質量提升工程、車規(guī)級芯片與元器件AEC-Q認證等多個技術服務平臺，滿足裝備制造、航空航天、汽車、軌道交通、5G通信、光電器件與傳感器等領域的電子產品質量與可靠性的需求。

我們的服務優(yōu)勢

●牽頭“面向集成電路、芯片產業(yè)的公共服務平臺建設項目""面向制造業(yè)的傳感器等關鍵元器件創(chuàng)新成果產業(yè)化公共服務平臺“等多個項目；

●在集成電路及SiC領域是技術能力的第三方檢測機構之一，已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百個型號的芯片驗證；

●在車規(guī)領域擁有AEC-Q全套能力，獲得了近50家車廠的認可，出具近300份AEC-Q報告，助力100多款車規(guī)元器件量產。