芯片級驗證,包括對汽車芯片進(jìn)行電參數(shù)測試、功能驗證、性能評估、結(jié)構(gòu)分析、環(huán)境適應(yīng)性驗證、可靠性評價等能力。廣電計量芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室可提供芯片封裝完整性全面測試，包含引線鍵合拉力，芯片粘接力，可焊性等，對芯片封裝可靠性進(jìn)?更為科學(xué)的評估。
瀏覽量：1107
更新日期：2024-09-04
價格：
| 品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 服務(wù)區(qū)域 | 全國 | 服務(wù)周期 | 常規(guī)3-5天 |
| 服務(wù)類型 | 元器件篩選及失效分析 | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS認(rèn)可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質(zhì)報告 | 增值服務(wù) | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發(fā)票 | 是 |
芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室服務(wù)范圍
大規(guī)模集成電路芯片
檢測標(biāo)準(zhǔn)
●JESD22-A103/ A104/ A105/ A108/ A110
●J-STD-020
●JS-001/002
●JESD78
檢測項目
（1）芯片級可靠性驗證試驗：高、低溫壽命老化試驗，高、低溫存儲試驗，溫度(功率)循環(huán)、沖擊試驗，高溫高濕試驗，高加速應(yīng)力試驗，芯片級機械測試試驗，推拉力測試。
（2）芯片靜電及閂鎖測試( ESD/LU）：人體、機器放電模式測試及驗證(HBM/MM/TLP)，系統(tǒng) ESD、EOS 測試(IEC-ESD/Surge/EFT)，元器件充放電模式測試(CDM)，閂鎖測試(LU)。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
芯片級試驗驗證全國6大專項實驗室服務(wù)背景
EUV制程工藝的高集成度芯片是新一代5G通信技術(shù)的核心。面向不同的5G應(yīng)用場景的可靠性應(yīng)用驗證是5G芯片推向市場應(yīng)用的關(guān)鍵步驟，芯片級試驗驗證的需求越來越急迫，挑戰(zhàn)也越來越大。
我們的優(yōu)勢
（1）提供面向多場景的芯片動態(tài)老煉測試（TDBI），為產(chǎn)品NPI階段提供專業(yè)和全面的?煉測試方案，解決動態(tài)?煉過程中?功耗芯片獨立溫控，矢量畸變和延時的眾多困擾；
（2）芯片封裝完整性全面測試，包含引線鍵合拉力，芯片粘接力，可焊性等，對芯片封裝可靠性進(jìn)?更為科學(xué)的評估；
（3）芯片靜電及閂鎖測試，提供覆蓋人體/機器放電模式測試及驗證( H B M / M M / T L P )、系統(tǒng)E SD/ E O S測試( I E CESD/Surge/EFT)、元器件充放電模式測試(CDM)和閂鎖測試(LU)。
地址：廣州市番禺區(qū)石碁鎮(zhèn)創(chuàng)運路8號廣電計量科技產(chǎn)業(yè)園
電話：400-602-0999
郵箱：limx3@grgtest.com
傳真：
點擊交流